日本adphox XT-281電暈放電測試儀
簡要描述：日本adphox XT-281電暈放電測試儀該產(chǎn)品可以檢測閃絡(luò)和電量放電。閃絡(luò)放電會消耗大量能量，并伴有光和聲，對產(chǎn)品或組件造成嚴(yán)重?fù)p壞，導(dǎo)致瞬時(shí)或短期故障?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，聯(lián)系我們!
產(chǎn)品型號：- 廠商性質(zhì)：代理商
- 更新時(shí)間：2026-03-17
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日本adphox XT-281電暈放電測試儀該產(chǎn)品可以檢測閃絡(luò)和電量放電。閃絡(luò)放電會消耗大量能量，并伴有光和聲，對產(chǎn)品或組件造成嚴(yán)重?fù)p壞，導(dǎo)致瞬時(shí)或短期故障?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，聯(lián)系我們!
日本adphox XT-281電暈放電測試儀產(chǎn)品簡介
電器中。近年來，除了家用電器外，電機(jī)在混合動力汽車和電動汽車領(lǐng)域也得到了廣泛應(yīng)用。傳統(tǒng)上，電機(jī)絕緣測試采用直流和商用頻率進(jìn)行。然而，由于逆變器施加的是重復(fù)脈沖電壓，因此需要新的測試方法和設(shè)備。
此外，這些產(chǎn)品中使用的變壓器、線圈、印刷電路板、連接器和連接電纜等組件也需要進(jìn)行高頻高壓測試。XT-281 電暈放電測試儀可以對上述測試對象施加類似于實(shí)際逆變器重復(fù)脈沖電壓的測試電壓，并進(jìn)行放電測試以評估其絕緣性能。XT
-281 電暈放電測試儀可以檢測閃絡(luò)和電量放電。閃絡(luò)放電會消耗大量能量，并伴有光和聲，對產(chǎn)品或組件造成嚴(yán)重?fù)p壞，導(dǎo)致瞬時(shí)或短期故障。
另一方面，電暈放電是由空氣電離引起的，由于其影響較弱，產(chǎn)品或部件在短時(shí)間內(nèi)發(fā)生故障的情況 "很少見"。然而，電暈放電產(chǎn)生的臭氧氧化作用以及高溫?fù)p傷會導(dǎo)致絕緣性能隨時(shí)間推移而下降，*終導(dǎo)致火花放電和故障。
產(chǎn)品特點(diǎn)
寬頻高壓測試能力
支持 33kHz~200kHz 測試頻率與 0.5kV?-p~5.0kV?-p 測試電壓，可精準(zhǔn)模擬逆變器實(shí)際脈沖電壓環(huán)境，覆蓋家電、新能源汽車等多場景高頻高壓絕緣測試需求。
雙維度放電檢測
可同時(shí)檢測火花放電（統(tǒng)計(jì) 0-127 次放電次數(shù)）與電暈放電（以 0-100% 百分比顯示放電率），全面評估絕緣瞬時(shí)故障與長期老化風(fēng)險(xiǎn)。
適配多樣負(fù)載特性
兼容容性負(fù)載（≤2nF）與感性負(fù)載（200μH~3mH），通過內(nèi)置電感 / 電容調(diào)節(jié)諧振頻率，對繞組、線圈、印刷電路板等組件均能生成穩(wěn)定衰減正弦波。
可視化波形監(jiān)測
配套波形監(jiān)測終端可實(shí)時(shí)輸出高壓波形、放電波形、峰值電流與同步信號，便于分析放電機(jī)理與絕緣劣化過程，為故障定位提供直觀數(shù)據(jù)。
工業(yè)級穩(wěn)定耐用
采用間歇脈沖施加方式（500 脈沖 / 秒），主機(jī)與探頭盒均為 430×470×180mm 標(biāo)準(zhǔn)化尺寸，整機(jī)重量 32 公斤，功耗 500VA，滿足實(shí)驗(yàn)室與產(chǎn)線長時(shí)間連續(xù)測試需求。
使用場景
新能源汽車電機(jī)絕緣檢測
對混合動力 / 電動汽車驅(qū)動電機(jī)、車載變壓器及高壓線束進(jìn)行高頻脈沖測試，評估電暈放電對絕緣的長期損傷，保障車載高壓系統(tǒng)安全。
變頻家電質(zhì)量管控
用于空調(diào)、洗衣機(jī)、冰箱等變頻家電的電機(jī)、線圈組件出廠測試，模擬逆變器脈沖電壓環(huán)境，提前識別火花放電與電暈放電缺陷，提升產(chǎn)品可靠性。
電力電子組件研發(fā)驗(yàn)證
在印刷電路板、連接器、高壓電纜等電力電子組件研發(fā)階段，檢測高頻高壓下的絕緣薄弱點(diǎn)，優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，縮短產(chǎn)品迭代周期。
工業(yè)設(shè)備維護(hù)診斷
對工業(yè)變頻器、伺服電機(jī)等在役設(shè)備進(jìn)行定期絕緣檢測，通過電暈放電率變化趨勢分析，預(yù)判絕緣老化風(fēng)險(xiǎn)，避免突發(fā)故障停機(jī)。
實(shí)驗(yàn)室材料性能研究
用于絕緣材料、電磁線等新材料的耐電暈性能測試，量化不同材料在高頻脈沖下的放電特性，為新型絕緣材料開發(fā)提供數(shù)據(jù)支撐。
操作說明
基本電路
當(dāng)柵極電壓導(dǎo)通一段時(shí)間后，流過 IGBT 的電流會隨時(shí)間增加。此時(shí)流過的電能主要轉(zhuǎn)化為磁能，并存儲在內(nèi)置電感中；如果被測物體是感性的，則存儲在其線圈中。
當(dāng) IGBT 關(guān)斷時(shí)，磁能轉(zhuǎn)換回電能，產(chǎn)生高電壓。該高電壓會在由內(nèi)置電感、內(nèi)置電容和被測物體組成的電路中產(chǎn)生諧振，形成一個(gè)逐漸衰減的振蕩波形。
如果被測物體的寄生電容本身就導(dǎo)致較高的諧振頻率，則可以利用內(nèi)置電容來調(diào)節(jié)振蕩頻率。此外，即使被測物體是容性的，例如繞組和鐵芯之間，內(nèi)置電感也能產(chǎn)生衰減的正弦波。
adphox XT-281電暈放電測試儀技術(shù)參數(shù)
| 項(xiàng)目 | 規(guī)格詳情 |
|---|---|
| 測試頻率 | 33kHz 至 200kHz |
| 測試電壓 | 0.5kV?-p 至 5.0kV?-p |
| 可測試負(fù)載 | 電容 2nF 或更?。浑姼?200μH 至 3mH |
| 電壓施加方式 | 間歇正弦波應(yīng)用（衰減正弦波） |
| 高壓脈沖間隔 | 間歇施加，頻率為 500 脈沖 / 秒 |
| 火花放電測量 | 統(tǒng)計(jì)并顯示火花放電次數(shù)（0-127） |
| 電暈放電測量 | 計(jì)算電暈放電率，以百分比（0-100%）顯示（詳見技術(shù)手冊） |
| 波形監(jiān)測終端 | 可監(jiān)測高壓波形、火花放電波形、電暈放電波形、峰值電流、同步信號 |
物理與功耗參數(shù)
外部尺寸：
主機(jī)：430（寬）× 470（深）× 180（高）毫米
探頭盒：430（寬）× 470（深）× 180（高）毫米
重量：
主機(jī)：17 公斤
探頭盒：15 公斤
功耗：500 伏安
